电位分析仪(201763410)
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| 状态： | 空闲 |
|---|---|
| 负责人： | 没有设置设备管理员 |
| 联系人： | |
| 实验室： | 思源楼400号 |
| 设备中文名称 | 纳米粒度与Zeta电位分析仪 | 设备英文名称 | ||
|---|---|---|---|---|
| 型号 | Brookhaven instruments Corporation, Model: omni | 供应商 | ||
| 国别 | 存放地点 | SY400 | ||
| 购置日期 | 2017-12-21 | 学院备注 | ||
| 设备管理员 | 联系电话 | |||
主要技术指标
1. 可测量的样品类型有纳米粒子、蛋白、聚合物及分散在水和其他溶剂中的胶体样品。 2. 样品体积范围：1-3ml；样品浓度范围：0.1ppm-40%w/v。 3. 使用的激光源：40mW光泵半导体激光器。 4. 散射角包括15°、90°、173°；温度控制为-5°C-110°C。 5. 纳米粒度测量范围：0.3nm-10μm；Zeta电位测量范围：1nm-100μm。
收费标准
严格遵照操作手册使用设备。使用注意事项：样品池放入样品槽前必须保证外侧干燥，不可直视光源，测试结束后要彻底清洗样品池。
注意事项
一旦预约成功，原则上不得取消预约，若由于特殊情况取消预约，请提前4小时通知设备管理员。
功能应用范围
胶体中纳米颗粒粒度、分子量及Zeta电位测量
附件信息
| 序号 | 文档名称 | 操作 |
文档信息
| 序号 | 文档名称 | 操作 |
图片信息
视频信息
二维码信息