405nm半导体激光（最大输出0.95 mW，激光分类：2类（IEC60825-1：2007，IEC60825-1：2014）），最大样品高度100mm，彩色3D拍照，放大倍数范围不限于108x-17280x（物镜倍数5x、10x、20x、50x和100x ，全部为干镜），10x: NA=0.30，20x：NA=0.60， 50x:NA=0.95， 100x NA=0.95），100x100mm超声波静音电动载物台，6孔电动物镜转盘，可3D拍照，测量功能：轮廓分析、差值分析、台阶高度分析、表面分析、面积/体积分析、线粗糙度分析、面粗糙度分析和直方图分析。

1. 注意开关机的顺序

2. 注意物镜切换的顺序

3. 注意样品的高度，防止样品刮伤物镜

观察纳米范围内的台阶，测量亚微米级的高度差。符合ISO25178标准的表面粗糙度测量（可测量从线到面的表面粗糙度），无需制备样品 - 只需将样品放在载物台上即可测量。0.12 μm横向分辨率，高清色彩观察。高精度的3D测量。水平分辨率：0.12um、垂直分辨率：6nm、小于6nm的高度分辨率，能有效的测量100nm到几百um的高度。最大样品高度100mm，载物台承重3Kg。